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: 手持式土壤分析光譜儀德國斯派克

手持式能量色散型X-射線熒光（EDXRF）光譜儀無需進(jìn)行復(fù)雜的樣品制備，對(duì)復(fù)雜基體的環(huán)境類樣本提供非?？焖僦苯拥脑販y量和光譜化學(xué)成分分析，SPECTROxSORT光譜儀可以在極短的時(shí)間內(nèi)達(dá)到非常低的檢測下限，因此在現(xiàn)場測試中可以快速提供實(shí)驗(yàn)室等級(jí)的測試結(jié)果。

: 新品速遞 | 德國斯派克推出新一代 SPECTRO xSORT XHH04

新版SPECTROxSORT手持式熒光（ED-XRF）光譜儀是德國斯派克分析儀器公司結(jié)合自身對(duì)行業(yè)應(yīng)用的透徹領(lǐng)悟和現(xiàn)場金屬測量領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)，厚積薄發(fā)打造的一款創(chuàng)新型便攜式熒光光譜分析儀。集一系列實(shí)用功能和創(chuàng)新設(shè)計(jì)為一身，在大幅提高用戶的分析速度、保證易用性和操作便利性的同時(shí)，保持了德國制造的優(yōu)異分析性能。

: 日立FT110A臺(tái)式XRF鍍層測厚儀，鋅層測厚儀

FT110A是一款臺(tái)式XRF分析儀，旨在應(yīng)對(duì)生產(chǎn)中鍍層分析的挑戰(zhàn)。強(qiáng)大的X射線熒光技術(shù)與自動(dòng)定位功能相結(jié)合，有助于提高電鍍車間的生產(chǎn)力，同時(shí)確保組件符合嚴(yán)苛標(biāo)準(zhǔn)。

: 日立X-Strata920 鍍層測厚儀，臺(tái)式XRF鍍層測厚儀

X-Strata920是一款高精度臺(tái)式XRF鍍層測厚儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的涂層，適合用于確定產(chǎn)品質(zhì)量的電子產(chǎn)品、連接器、裝飾品和珠寶分析

: 日立EA1280 臺(tái)式熒光光譜儀，XRF分析儀

EA1280是日立專為RoHS有害物質(zhì)限制設(shè)計(jì)的XRF分析儀，15年來一直受到信任，為需要遵守本指令的企業(yè)提供一致的結(jié)果。通過對(duì)有害物質(zhì)的簡單快速的測量，您可以確保能夠滿足環(huán)境法規(guī)的要求。為什么選擇日立XRFRoHS分析儀?操作方便可自動(dòng)采樣靈活校準(zhǔn)以適應(yīng)新的RoHS標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)突出顯示您正在分析的內(nèi)容以獲得可瀏覽的結(jié)果快......

: 日立EA1000AIII 臺(tái)式X射線熒光光譜儀，臺(tái)式XRF熒光分析儀

EA1000AIII旨在加速和簡化生產(chǎn)環(huán)境中的RoHS測試。該分析儀有助于滿足當(dāng)前的RoHS、EN71和無鹵素指令，并允許隨著指令的變化更新物質(zhì)控制標(biāo)準(zhǔn)。

: 手持式XRF涂層測厚儀德國斯派克

德國斯派克手持式涂層光譜儀應(yīng)用于包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測度；模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測試。

: 偏振能量色散X熒光分析儀 OCUBE ED-XRF

CUBE型ED-XRF分析儀為各種應(yīng)用提供簡單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析同類產(chǎn)品中測試速度出類拔萃：高速高精度，是典型測試速度的兩倍應(yīng)用范圍廣和準(zhǔn)確度高：優(yōu)化的應(yīng)用程序包簡單易用：只需三個(gè)簡單步驟即可獲得準(zhǔn)確的結(jié)果。

: 小型臺(tái)式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀

小臺(tái)式X射線熒光光譜儀 RoHS分析儀選配的樣品測試吊艙可將儀器轉(zhuǎn)化為臺(tái)式EDXRF，在保障任何樣品測試輻射安全的同時(shí)，極大的提升設(shè)備對(duì)極微小樣品測試能力并取得更低的檢測下限。

: 手持式XRF涂層測厚儀便攜式XRF涂層測厚儀

用途：1.涂層測厚，包括Cr+純化，耐指紋，磷化膜等化學(xué)處理膜層厚度測試 2.模具鋼、鎢鋼等材料表面釩(V)鍍層、鉻(Cr)鍍層或鈦(Ti)鍍層等金屬鍍層膜厚測試。

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