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   日本理學(xué)波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析 
 
     
 
     
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   來(lái)源：  
   
     儀德 
     
   發(fā)布日期： 2020.11.20  
 
     
 
    廣州儀德精密科學(xué)儀器股份有限公司專業(yè)銷售日本理學(xué)波譜，波譜不限于材料的形狀，應(yīng)用多領(lǐng)域金屬元素的測(cè)定分析。本文章簡(jiǎn)單介紹日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析，為礦石領(lǐng)域?qū)r石測(cè)定分析提供寶貴經(jīng)驗(yàn)。
    

    
    
    
    
    
        日本理學(xué)ZSXPrimusⅣ波長(zhǎng)X射線熒光光譜儀對(duì)巖石樣品的定點(diǎn)分析及面掃描分析
    
    

    

    
    
    

    
使用儀器分析室內(nèi)置的相機(jī)將巖石樣品中需要關(guān)注的測(cè)量范圍放大后進(jìn)行了分析。
    

     紅框內(nèi)擴(kuò)大了的范圍由右圖表示。

    

     可以更精密地指定測(cè)量位置。

    

    
面掃3描分析結(jié)果
    

    
    
    
        面掃3描分析結(jié)果
    
    

    

    
微區(qū)測(cè)繪
    

     測(cè)繪數(shù)據(jù)的測(cè)繪視圖統(tǒng)合為以攝像圖和數(shù)據(jù)(圖、測(cè)量數(shù)據(jù))來(lái)表示。圖示種類有不同模式，可以采用有效的圖示。

    

    
    
    
        微區(qū)測(cè)繪
    
    

    

    
各測(cè)量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較
    

    
    
    
        各測(cè)量點(diǎn)的Mg-Kα的譜線比較
    
    

    

    
SQX方法做的定點(diǎn)分析結(jié)果
    

    
    
    
        SQX方法做的定點(diǎn)分析結(jié)果
    
    

    

     γ-θ樣品臺(tái)徹底解決了X射線照射不均以及分光晶體反射強(qiáng)度不均的問(wèn)題，保證樣品在X射線最強(qiáng)、最佳條件下測(cè)量。

    

    
    
    
        測(cè)量
    
    

    

     測(cè)角儀快速掃描定位精度在土0.00010之內(nèi)。γ-θ平臺(tái)分辦率為100μm,實(shí)現(xiàn)了快速精確的點(diǎn)、線、面分析。

     
 
     
  

     
     
    
     
 
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